S-4700HITACHI S4700 SEM的详细描述：A Cold Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEGSEM) of "below-the-lens" design capable of (manufacturer''s

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JEM-2100F场发射透射电子显微镜配备了高亮度和高相干性的场发射电子枪,可以进行高分辨观察和纳米微区分析.

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透射电子显微镜(高分辨率通用型TEM)

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TESCAN GAIA3电镜系统完美的集成了超高分辨率的电子光学系统和高性能的离子束系统，二者配置于同一样品室上。GAIA3电镜以MAIA3场发射扫描电镜为平台，在保留MAIA3优越性能的基础上，增加了使用聚焦离子束进行样品表面处理的功能。

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